Карташов Дмитрий Александрович

Карташов Дмитрий Александрович Должность:
      доцент

Ученая степень:
      кандидат технических наук

Аудитория:
      3334

Телефон:
      (499) 740-92-13



Краткая биография

В 2001 г. окончил с золотой медалью Кораблинскую СОШ №2.

В 2006 г. защитил диплом и получил квалификацию инженера по специальности «физическая электроника» в Рязанском государственном радиотехническом университете.

В 2014 г. в Национальном исследовательском университете «МИЭТ» защитил кандидатскую диссертацию по специальности 05.11.13 «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий»).

Общий стаж работы: 10 лет.

Педагогический стаж: 3 года.

В 2006 - 2011 гг. – ОАО «НИИМЭ и Микрон», инженер-технолог.

В 2011 - 2012 гг. – ГБОУ СПО «Политехнический колледж №50», группы по специальности АСУ, преподаватель специальных дисциплин (по совместительству).

В 2011 - 2013 гг. – ОАО «НИИМЭ», инженер-технолог.

В 2013 – н.в. – АО «НИИМЭ», инженер-конструктор.

С 2015 - по н.в. – МФТИ. Базовая кафедра микро- и наноэлектроники АО «НИИМЭ», ассистент преподавателя.

Доцент кафедры информационной безопасности МИЭТ с 2016 года.

Курсы повышения квалификации:

Проектирование приборов и систем Cadence (начальный и опытный уровень), 2016, МИЭТ

Технический английский язык (уровень Intermediate), 2015, МИЭТ


Читаемые курсы

Информационная безопасность


Научная деятельность

Научная специальность/направление: Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий/ Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии.

Научная деятельность, области научных интересов

  • обратные задачи;
  • моделирование сложных систем;
  • эволюционные алгоритмы.
Перечень основных публикаций

Всего опубликовано 33 печатных научных и учебно-методических работ, среди них:

  1. Карташов Д. А., Герасименко Н. Н., Медетов Н. А., Турьянский А. Г., Цехош В. И. Эффективность генетического алгоритма при анализе данных рентгеновской рефлектометрии. // Известия Высших Учебных Заведений: Электроника.- 2010.- №3 (83).- С. 74-79. Kartashov D. A., Gerasimenko N. N., Medetov N. A., Turyansky A. G. and Tsekhosh V. I. Performance of the Genetic Algorithm in X-ray Reflectometry Data Analysis // Russian Microelectronics.-2011.-Vol. 40.-No. 7.-pp. 526–528.
  2. Карташов Д. А., Медетов Н. А., Смирнов Д. И., Орлов Р. С., Иващенко О. В. Повышение эффективности вычислений результатов двухволновой рентгеновской рефлектометрии многослойных структур при использовании графических процессоров и технологии CUDA //“Труды МАИ”.- 2010.- № 40-15. URL: http://www.mai.ru/publications/index.php?ID=22872
  3. Карташов Д. А., Медетов Н. А., Смирнов Д.И., Орлов Р. С. Влияние предварительного преобразования экспериментальных данных на точность обработки рентгеновских рефлектограмм // Известия ВУЗов: Электроника.- 2011 г.- №3 (89).- С. 83-88. Kartashov D. A., Medetov N. A., Smirnov D. I., Orlov R. S. Influense of the preliminary transformation of experimental data on precision of X-Ray data processing. // Russian Microelectronics.-2012.-Vol. 41.-No. 7.
  4. Gerasimenko N. N., Kartashov D. A., Medetov N. A. Genetic algorithm, bees algorithm and extended bees algorithm efficiency comparison for X-Ray reflectogram decoding application // Eurasian physical technical journal: Modeling of nonlinear physical processes.- 2010. - vol. 7.- № 1(13).- P. 51-55.
  5. Карташов Д. А. Сравнение эффективности генетического алгоритма и гибридных алгоритмов на основе генетического для расшифровки рентгеновских рефлектограмм: Тезисы докладов конференции “Микроэлектроника и Информатика - 2010”.- Зеленоград, 2010.- С. 9;
  6. Герасименко Н. Н., Карташов Д. А. Сравнение эффективности применения генетического алгоритма и гибридных алгоритмов на его основе для расшифровки рентгеновских рефлектограмм, полученных от многослойных наноструктур, выращенных на кремнии:
  7. Карташов Д. А., Медетов Н. А., Смирнов Д. И., Орлов Р. С. Обработка результатов рентгеновской рефлектометрии многослойных структур с реализацией параллельных вычислений на графических процессорах: Материалы 7-й международной научной конференции «Хаос и структуры в нелинейных системах. Теория и эксперимент».- Караганда.- Казахстан, 2010 г. – С.131-136.
  8. Карташов Д. А., Медетов Н. А., Смирнов Д. И., Орлов Р. С. Увеличение производительности компьютерных вычислений рентгеновских рефлектограмм // Вестник Карагандинского государственного университета.– Серия «Физика».– 2010. – №4(60). – с.72-78.
  9. Карташов Д. А., Медетов Н. А., Орлов Р. С. Влияние предварительного преобразования экспериментальных данных на точность обработки рентгеновских рефлектограмм // Известия ВУЗов: Электроника.- 2011г.- №3 (89).- С. 83-88. Kartashov D. A., Medetov N. A., Smirnov D. I., Orlov R. S. Influense of the preliminary transformation of experimental data on precision of X-Ray data processing. // Russian Microelectronics.-2012.-Vol. 41.-No. 7.
  10. Ермаков А.С., Карташов Д.А., Рябова Л.В. Проблемы токов утечки в подзатворных МДП системах. Тезисы докладов конференции “Микроэлектроника и Информатика - 2013”.- Зеленоград, 2013;
  11. Погалов А.И., Угольников С.В., Карташов Д.А. Конструкторско-технологические расчёты экранирования блоков электронной аппаратуры Научно-практическая конференция преподавателей “Практика внедрения интерактивных технологий в учебный процесс НИУ МИЭТ”. Тезисы докладов. – М.: МИЭТ, 2016.- С. 183-184. ISBN 978-5-7256-0840-3. (0,08 п.л.)
Свидетельства на государственную регистацию программ для ЭВМ:
  1. Герасименко Н. Н., Карташов Д. А. Программный комплекс автоматизированной оценки параметров наноструктур по результатам рентгенооптических измерений, регистрационный № 2010610386 (заявка № 2009616133, зарегистрировано в реестре программ для ЭВМ 11 января 2010 года).
  2. Герасименко Н. Н., Карташов Д. А., Медетов Н. А., Орлов Р. С. Программа расчёта рентгеновских рефлектограмм на видеокартах NVidia с технологией CUDA, регистрационный № 2010615187 (заявка № 2010613431, зарегистрировано в реестре программ для ЭВМ 11 августа 2010 года).


Назад в раздел